Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS

Aktuelle Forschung

Hier präsentieren wir aktuelle Projektbeispiele unserer Arbeit, sowohl in eigener Vorlaufforschung als auch in Kooperation mit Partnern und im Auftrag von Kunden.

Mikrostrukturbasierte Entwicklung von Gläsern und Glaskeramiken

 

© Fraunhofer IMWS

Laserschreiben von Mikrolinsen für Hochleistungsoptiken

Mit »Laser swelling« lassen sich Mikrostrukturen in Kunststoffe einbringen. Das eröffnet vielfältige Einsatzfelder.

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Multidimensionale Gradientenlinsen

Plane Linsen mit definiertem Brechzahlprofil können als Korrekturoptik für Stablinsen und andere plane Mikrooptiken eingesetzt werden.

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Feuerfestmaterialien in der Glasindustrie

Hochauflösende mikroskopische Methoden liefern Erkenntnisse zur Struktur von feuerfesten Materialien, auch bei der Nutzung erneuerbarer Brennstoffe wie Wasserstoff.

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© Fraunhofer IMWS

Neuartige Glaskeramik »LEAZit« entwickelt

Am Fraunhofer IMWS wurden Glaskeramiken mit negativer thermischer Ausdehnung entwickelt, die in Hightech-Produkten oder im Massenmarkt angwendet werden können.  

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Mikrostrukturdiagnostik von Materialien und Systemen der Optik

 

© Fraunhofer IMWS / Michael Deutsch

ToF SIMS

Am Fraunhofer IMWS stehen hochmoderne Geräte zur Materialanalytik für Fehlerdiagnostik und Qualitätskontrolle zur Verfügung.

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© Fraunhofer IOF

Antireflexlösungen für die Laserträgheitsfusion

Lasertechnologien für Fusionskraftwerke müssen extremen Anforderungen gewachsen sein. Im Projekt »nanoAR« werden Lösungen zur strukturellen Entspiegelung und Reduzierung von oberflächennahen Schädigungen entwickelt.

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© Fraunhofer IMWS

Bewertung von Effektpigmenten und Lacken

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Charakterisierung von rotem Leuchtstoff für neuartige LEDs

Bei der Synthetisierung eines neuartigen roten Leuchtstoffs hat das Fraunhofer IMWS die Charakterisierung durch Messungen mittels STEM, EDX und ToF-SIMS unterstützt.

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© Fraunhofer IMWS

Identifikation chemischer Verbindungen

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ermöglicht als Methode zur Oberflächenanalyse von Werkstoffen die Untersuchung komplexer chemischer Verbindungen.

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Analytik an optischen Dünnschichtsystemen

 

Analyse von Dünnfilm-Mehrschichten

Moderne Verfahren der Oberflächenanalytik wie ToF-SIMS sind unerlässlich, um Aussagen über die Beschaffenheit von Mehrschichtstapeln zu treffen, etwa zu Verunreinigungen.

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Entwicklung von Präparations- und Diagnoseverfahren für die Mikrostrukturdiagnostik

 

© Fraunhofer IMWS

Probenpräparation mittels fokussierender Ionenstrahltechnik

Ein innovativer Ansatz für die nanometergenaue Hochdurchsatz-Probenpräparation mittels FIB erleichtert die Fehleranalyse hochintegrierter mikroelektronischer Schaltungen.

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© Fraunhofer IMWS

Vereinfachte Präparation für elektronenmikroskopische Untersuchung

Das Gerät »microPREP« nutzt Ultrakurzpulslaser, um sehr dünne Materialproben zu erzeugen.

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