Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine fortschrittliche Bildgebungstechnik, die am Fraunhofer IMWS zum Einsatz kommt, um hochauflösende Bilder von Oberflächen zu erzeugen. Im Gegensatz zur herkömmlichen Lichtmikroskopie verwendet das REM Elektronenstrahlen anstelle von Licht, um das Objekt zu beleuchten und detaillierte Bilder zu erfassen.
Funktionsweise der Rasterelektronenmikroskopie
Bei der REM wird ein Elektronenstrahl auf die Oberfläche des zu untersuchenden Objekts gerichtet. Dieser Strahl wechselwirkt mit der Oberfläche und erzeugt verschiedene Signale wie Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen oder Röntgenstrahlung. Diese Signale werden dann erfasst und in ein Bild umgewandelt. Das REM bietet eine viel höhere Auflösung als die Lichtmikroskopie, was bedeutet, dass kleinste Details auf der Oberfläche des Objekts sichtbar gemacht werden können. Dadurch ermöglicht es die Untersuchung von Materialstrukturen, Oberflächenmorphologien, Partikelgrößen und anderen Merkmalen auf der Mikro- und Nanoskala.
Eine Besonderheit des REM ist die Möglichkeit, das Objekt schrittweise abzutasten und ein dreidimensionales Bild zu erstellen. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse der Oberflächenstruktur und eine genaue Vermessung von Partikeln oder Strukturen.
Anwendungsbereich der Rasterelektronenmikroskopie
Die REM findet in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie, Geologie, Forensik und vielen anderen Gebieten Anwendung. Sie ist ein unverzichtbares Werkzeug für die Erforschung und Charakterisierung von Materialien und Oberflächen auf mikroskopischer Ebene. Am Fraunhofer IMWS steht hierfür eine hochmoderne Ausstattung zur Verfügung. Unser Wissenschaftspersonal besitzt ein großes Fachwissen und Kenntnisse über die Rasterelektronenmikroskopie sowie die Interpretation der REM-Bilder, um die erhaltenen Informationen korrekt zu analysieren und zu interpretieren.