Metrolarge

 

Vorhaben

Messsysteme und -verfahren zu großflächigen optischen Prozessüberwachung in der Glas- und Beschichtungsindustrie

Zeitraum

1. Oktober 2017 - 31. Dezember 2020

Projektziele

• Erforschung neuartiger Messverfahren zur Bewertung der optischen und elektro-optischen Schichteigenschaften
• großflächige und zerstörungsfreie Dünnschichtcharakterisierung durch extrem homogene und spektral selektive LED-Beleuchtungseinheiten
• wellenlängenaufgelöste Inspektion durch Hyperspektralabbildung sowie ellipsometrische Messverfahren und optische Transmission/Reflexionsmessung an Großformaten

Projektleiter

Dr. Paul-Tiberiu Miclea – paul-tiberiu.miclea@csp.fraunhofer.de