Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWSJunge Forschende und erfahrene Fachleute aus dem Bereich der nanomechanischen Prüfung tauschten sich bei der 15. Auflage der Nanobrücken-Konferenz aus, die in diesem Jahr am Fraunhofer IMWS stattfand. Rund 70 internationale Gäste aus Wissenschaft und Industrie kamen auf Einladung des Geräteherstellers Bruker BNSM nach Halle (Saale), um neue Trends, Forschungsansätze und Anwendungsmöglichkeiten zu diskutieren.
Das Programm der dreitägigen Tagung kombinierte Vorträge führender Expertinnen und Experten mit praktischen Workshops/Tutorials und einem Posterwettbewerb. Dabei wurden alle Aspekte der nanomechanischen und nanotribologischen Prüfung abgedeckt, einschließlich biomechanischer, in-situ-Experimente und Theorie/Simulation.
Bei der nanomechanischen Prüfung werden Materialeigenschaften wie Härte, Elastizität, Zugfestigkeit, Kriechverhalten oder Ermüdung auf nanoskaliger Ebene untersucht. Die Methode liefert wichtige Beiträge zur Zuverlässigkeit von Geräten und Komponenten der Mikroelektronik und für die Entwicklung neuer Materialien.
Das Fraunhofer IMWS brachte als akademischer Partner der Tagung seine Expertise zu Anwendungsmöglichkeiten der Nanoindentation ins Tagungsprogramm ein. In einem Impulsvortrag von Institutsleiterin Prof. Dr. Erica Lilleodden wurden die Kompetenzen des Instituts und die Bezüge zwischen nanomechanischen Verfahren und der gerade entstehenden Pilotlinie für »Advanced Packaging and Heterogeneous Integration for Electronic Components and Systems« (APECS) aufgezeigt, an der das Fraunhofer IMWS beteiligt ist.
Falk Naumann, Teamleiter am Fraunhofer IMWS, stellte eine »Study of epoxy-based molding compound degradation at high temperature operation using nano-indentation mapping techniques« vor. Prof. Dr. Thomas Höche, Leiter des Geschäftsfelds »Optische Materialien und Technologien« präsentierte in einem weiteren Vortrag Möglichkeiten zu »Speeding up Micromechanics Sample Prep for Indentation Testing Using Ultrashort Laser Pulses«.
Bei einer Laborführung konnten die Gäste die erstklassige Ausstattung des Fraunhofer IMWS kennenlernen und die Hintergründe der am Institut eingesetzten Methoden zur Mikrostrukturcharakterisierung erfahren, einschließlich gängiger Anwendungen und Einblicken in die Entwicklung neuer Prüfverfahren und -geräte. Dazu gehörten etwa die Möglichkeiten von zur Mikrostrukturanalyse und Fehlerdiagnostik mittels Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), zerstörungsfreier Fehlerlokalisierung (Scanning Acoustic Microscopy SAM), der mikromechanischen Probenpräparation mit Laserwerkzeugen, sowie der Kombination von Rasterelektronenmikroskopen (REM) und quantitativer nanomechanischer Prüfung mit einem Nano-Indenter.
(7. März 2025)