Referenzen

Unsere wissenschaftliche Exzellenz sowie unsere Zusammenarbeit mit Partnern zu wichtigen Industriethemen werden immer wieder mit Auszeichnungen auf Fachkonferenzen, von Industrieverbänden oder Forschungsorganisationen gewürdigt. Diese Auszeichnungen sind für uns ein Ansporn, weiterhin mit kreativen und kompetenten Lösungen an den aktuellen und zukünftigen Herausforderungen unserer Kunden zu arbeiten.

Wissenschaftspreise

Sehen Sie hier eine Übersicht der von unseren Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftlern gewonnenen Preise.

Jahr

Preis

Preisträger

2024

"Intel Outstanding Researchers Award 2023"

Steigerung von Sensitivität und 3D-Auflösungsvermögen der mikroskopischen Lock-In-Thermografie-Analytik, Intel Corporation

Sebastian Brand, Michael Kögel
2023

»Attendees Best Paper« der ISTFA 2023

Paper »Advances in High-Resolution Non-Destructive Defect Localization based on Machine Learning Enhanced Signal Processing«, vorgestellt auf dem 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA)

Sebastian Brand
2022

»Best Poster Award« der internationalen Fachkonferenz CIPS

Poster »Potential failure modes of cement-based encapsulation concepts for reliable power electronics«

Falk Naumann, Bianca Böttge, Sandy Klengel
2019

»Attendees‘ Best Paper« der internationalen Fachkonferenz ISTFA in Portland/USA

Paper »Machine learning assisted signal analysis in Acoustic Microscopy for non-destructive defect identification«

Michael Kögel, Sebastian Brand, Frank Altmann
2019

Outstanding Paper der European Microelecronics and Packaging Conference (EMPC) in Pisa/Italien

Forschungen zum Einfluss von Kupferdrahtmaterial auf korrosionsbeständige Packages und Systeme für Hochtemperaturanwendungen, die in Kooperation mit der Nippon Micrometal Corporation in Japan stattfanden

Sandy Klengel
2019

Best Session Paper der Electronic Components Technology Conference (ECTC)

Beitrag zur Materialcharakterisierung fortschrittlicher zementbasierter Vergusssysteme für effiziente Leistungselektronik mit erhöhter Leistungsdichte

Bianca Böttge, Falk Naumann, Sandy Klengel, Matthias Petzold
2019

Outstanding Interactive Presentation Paper der Electronic Components Technology Conference (ECTC)

Arbeiten zur zerstörungsfreien Beurteilung der Porosität in Silber-Sinterverbindungen mittels Schallwellen

Sebastian Brand, Bianca Böttge, Michael Kögel, Falk Naumann, Frank Altmann
2019

IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)


»New Access to Soft Breakdown Parameters of Low-k Dielectrics Through Localisation-Based Analysis«

N. Herfurth, A. Beyreuther, E.  Amini, C. Boit, Michél  Simon-Najasek, Susanne  Hübner, Frank Altmann, R. Herfurth, C.  Wu, I.  De Wolf, K. Croes
2019

SAM³: New Failure Analysis Methods for Heterogeneous Systems.

Th. Schweineboeck, K. Pressel, Frank Altmann, P. Hoffrogge, M. Grimm
2018

Best Poster Award der 10th International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS)

»Novel Specimen Design to Test Engineering Plastics for Power Electronic Applications«

Rico Bernhardt
2018

Supplier-Award der Firma Micronas-TDK

 

Frank Altmann, Michél Simon-Najasek
2018

Best of Track des International Symposium on Microelectronics

»Reliability of novel ceramic encapsulation materials for electronic packaging« in der Session »Novel Materials/Processes«

Bianca Böttge
2018

EUREKA Innovation Award

Kategorie »Large cooperation SME collaboration«

Matthias Petzold, Frank Altmann, Sebastian Brand
2018

Best Poster Award der International Conference on Integrated Power Electronics Systems (CIPS)

»Novel Specimen Design to Test Engineering Plastics for Power Electronic Applications«

Bianca Böttge, Sandy Klengel
2018

Best Poster Award des 25th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

Beitrag zu verfügbaren und neu entwickelten Fehleranalyse-Techniken, die für 3D-gepackte Bauelemente geeignet sind

Frank Altmann, Sebastian Brand, Matthias Petzold
2018

IEEE transactions on components, packaging and manufacturing technology

Beitrag, in dem ein neues thermisches Modell vorgestellt wird, das auf einem verteilten und schnellen Modellierungsansatz für die Modellierung von Leistungsbauelementen aus Galliumnitrid (GaN) basiert. 

V. Sodan, S. Stoffels, H. Orins, S. Decoutere, Frank Altmann, M. Baelmans, I. De Wolf
2017

Best Student Paper Award der 18. International Conference on Electronic Packaging Technology

»On reproducing the copper extrusion of throughsilicon-vias from the autonomic scale«

Frank Altmann, Matthias Petzold, Falk Naumann
2017

ISTFA, 43. Internationales Symposium für Test- und Fehleranalyse

3D-Lokalisierung von Liner-Durchbrüchen innerhalb Cu-gefüllter TSV's durch rückseitige LIT- und PEM-Defokussierungsreihen

Frank Altmann, Christian Große, I. Wolf, Sebastian Brand
2017

ISTFA, 43. Internationales Symposium für Test- und Fehleranalyse

Akustische und photoakustische Inspektion von Durchkontaktierungen aus Silizium im GHz-Frequenzband

Sebastian Brand, Michael Kögel, A. Khaled, I. DeWolf, M.J. Moore, E.M. Strohm, M.C. Kolios, Frank Altmann
2016

Best Paper des ESREF Best Paper Award Committee

»Correlation of gate leakage and local strain distribituion in GaN/AlGaN HEMT structures«

Andreas Graff, Michél Simon-Najasek, David Poppitz, Frank Altmann
2016

1st Prize for one of the Best Posters at ICCG11 - The international Conference on Coatings on Glass and Plastics

»Influence of thin-film properties on the reliability of flexible glass«

Georg Lorenz, Falk Naumann
2015

Hugo Junkers Preis des Landes Sachsen-Anhalt

»Fehlerdetektion in höchstintegrierten mikroelektronischen Systemen mittels Lock-in-Thermographie«;Kategorie »Innovativste Allianz«, gemeinsam mit Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik

Frank Altmann, Ortwin Breitenstein, Christian Große, Falk Naumann
2014

Outstanding Paper at 40th International Symposium für Testing and Failure Analysis

»Advanced FIB sample preparation techniques for high resolution TEM investigations of HEMT device structures«

Frank Altmann, Jörg Jatzkowski, Michél Simon-Najasek
2014

Best Paper Award der imaps-Deutschland Herbsttagung

»Mechanische und Mikrostrukturelle Bewertung von
Halbleiterbauelementen mit Oberflächendefekten«

Falk Naumann
2014

Best Paper Award ESREF 

»Advanced FIB sample preparation techniques for high resolution TEM investigations of HEMT device structures«

Michél Simon-Najasek, Frank Altmann, Susanne Hübner, Andreas Graff
2014

ECPE Young Engineer Award

»High Resolution failure analysis of silver-sintered contact interfaces for power electronics«

Bianca Böttge
2013

ENIAC Innovation Award des European Nanoelectronics Forums

Forschungsprojekt »European research project ESiP (EfficientSiliconMulti-Chip System-in-Package Integration)«

Frank Altmann, Matthias Petzold
2012

Outstanding Paper at 37th International Symposium für Testing and Failure Analysis

»Characterization and failure analysis of TSV interconnects: From non-destructive defect localization to material analysis with nanometer resolution«

Frank Altmann, Michael Krause, Matthias Petzold, Christian Schmidt
2012

Best Paper beim Pacific Rim Meeting on Electrochemical and Solid-State Science

»Failure mechanisms and mechanical characterization of reactive bonded interfaces«

Bianca Böttge
2012

Förderpreis des Halleschen Bezirksvereins Verein Deutscher Ingenieure

Masterarbeit »Untersuchung von Kontrastmechanismen im Raster-elektronenmikroskop zur Analyse von Dotierprofilen integrierter Schaltkreise« den Förderpreis des Halleschen Bezirksvereins Deutscher Ingenieure (VDI).

Jörg Jatzkowski
2012

Best Session Paper Award der Electronic Components and Technology Conference ECTC

»Characterization and failure analysis of TSV interconnects: From non-destructive defect localization to material analysis with nanometerresolution«

Frank Altmann, Michael Krause, Matthias Petzold, Christian Schmidt
2009

Second Price für Best Poster beim Micromechanics Europe Workshop

»Characterization of reactive nano scale multilayer foils for microsystem applications« 

Bianca Boettge, Nico Teuscher, Jan Schischka, Michael Krause, Susanne Richter, Andreas Heilmann, Matthias Petzold, Jörg Bagdahn
2009

Best Paper Award of Session beim International Symposium on Microelectronics der International Microelectronics Assembly and Packaging Society (IMAPS)

»Roomtemperature wedge-wedge ultrasonic bonding using aluminum coated copper wire«

Matthias Petzold, Robert Klengel, R. Dohle, H. Schulze, F. Rudolf